對比CM10FH涂層測厚儀對比
上海雙旭CM10FH涂層測厚儀產(chǎn)品參數(shù)
測量原理：磁性感應(yīng)（Fe）/渦流感應(yīng)（NFe）
測量范圍：0~10mm（Fe）；0~3mm（NFe）
分辨率：0.1μm（0~99.9μm）；1μm（100μm以上）
測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
最小曲率半徑：凸面5mm，凹面25mm
最小測量面積：直徑10mm
最薄基底厚度：Fe模式0.2mm，NFe模式0.05mm
校準方式：零點校準、兩點校準
數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能，具體容量需參考最新規(guī)格書
電源：2節(jié)AAA電池
顯示：LCD數(shù)字顯示
工作溫度：0~40℃
使用注意事項
校準：使用前必須在與待測工件材質(zhì)、曲率相近的標準片上校準，測量不同基材（鐵/非鐵）需切換相應(yīng)模式并重新校準。
測量表面：待測表面需清潔、干燥、無附著物，粗糙度過高會影響精度。
基體影響：基體厚度需大于“最薄基底厚度”，否則測量不準確。對于小工件、強磁性基體或復(fù)雜形狀，應(yīng)進行針對性驗證。
探頭放置：測量時探頭需垂直、平穩(wěn)貼緊被測表面，避免傾斜、晃動或壓力不均。
環(huán)境干擾：避免在強磁場、強電磁干擾或劇烈溫度波動的環(huán)境中使用。
維護：定期清潔探頭，避免撞擊、刮擦。長期不用應(yīng)取出電池。
數(shù)據(jù)解讀：對異常點建議多次測量取平均值，并核查校準狀態(tài)及基體條件。
對比說明
CM10FH是一款基礎(chǔ)型分體式涂層測厚儀，其“對比”通常指向與其它型號（如一體式CM10FN、更高精度CM11系列）或競品的差異。核心對比點通常包括：
分體式設(shè)計：探頭與主機分離，便于在狹窄空間或特定角度操作，但便攜性略遜于一體機。
雙功能探頭：自動識別鐵/非鐵基材，無需更換探頭，但測量范圍與精度屬經(jīng)濟實用級別。
性價比：在常規(guī)工業(yè)現(xiàn)場（如防腐涂層、電鍍層測量）中，以實用性和成本為主要優(yōu)勢。
適用性：適用于平面或曲率不大的金屬基體，對于超薄涂層、極高精度要求或復(fù)雜基體（如強磁性鋼）可能存在局限性。
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