HPS2523 鍍膜方塊電阻測(cè)試儀

上海雙旭 HPS2523 鍍膜方塊電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品概述

HPS2523是一款專用于測(cè)量薄膜、鍍層材料方塊電阻（面電阻）的精密測(cè)試儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、顯示面板、新材料研發(fā)與質(zhì)量控制等領(lǐng)域。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量范圍： 0.1 mΩ/sq ~ 2 MΩ/sq（典型值，具體分檔需參考手冊(cè)）
• 測(cè)量精度： ±（讀數(shù)% + 底數(shù)）
• 測(cè)試電流： 多檔可編程電流源
• 顯示方式： 數(shù)字液晶顯示，直接讀取方塊電阻值
• 探頭配置： 標(biāo)配四探針探頭，探針間距可選
• 通信接口： 通常配備RS-232或USB接口，用于數(shù)據(jù)輸出與遠(yuǎn)程控制
• 電源要求： AC 220V ±10%， 50/60Hz
• 工作環(huán)境： 溫度 0~40°C， 濕度 ≤80% RH

使用注意事項(xiàng)

• 校準(zhǔn)： 使用前需按規(guī)定進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測(cè)量準(zhǔn)確性。
• 探針接觸： 測(cè)量時(shí)需確保四探針與樣品表面垂直、穩(wěn)定接觸，壓力均勻，避免劃傷樣品或探針。
• 樣品要求： 待測(cè)樣品表面應(yīng)平整、清潔、無氧化層或污染物，面積需大于探針陣列覆蓋范圍。
• 環(huán)境干擾： 避免在強(qiáng)電磁干擾、震動(dòng)或溫濕度劇烈波動(dòng)的環(huán)境中使用。
• 安全操作： 儀器接地必須可靠，通電時(shí)請(qǐng)勿觸摸內(nèi)部電路或探針頭金屬部分。
• 維護(hù)保養(yǎng)： 定期清潔探針，檢查線纜連接，長期不用時(shí)應(yīng)存放于干燥環(huán)境。

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