Agilent E4980A LCR電橋是一款面向電子元器件測試領域的高精度阻抗分析儀器，適用于研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量檢測等多種場景。該設備通過先進的測量技術(shù)，可快速、準確地完成電感（L）、電容（C）、電阻（R）等基礎參數(shù)測試，同時支持阻抗（Z）、導納（Y）、相位角等復合參數(shù)的分析，為電子元件特性評估提供可靠數(shù)據(jù)支持。
在性能方面，E4980A具備寬廣的頻率測試范圍，覆蓋20 Hz至2 MHz區(qū)間，可滿足不同元器件的高頻與低頻測試需求。其測量速度在快速模式下可達每秒20次以上，顯著提升批量測試效率。儀器內(nèi)置的直流偏置功能支持0 V至40 V電壓輸出，適用于電容器、電感器等帶有偏置電壓元件的真實工況模擬測試。此外，用戶可通過手動設置或自動掃描模式靈活調(diào)整測試條件，適配多樣化測試場景。
設備采用5.6英寸彩色液晶顯示屏，直觀呈現(xiàn)測量數(shù)據(jù)與圖形化趨勢曲線。內(nèi)置存儲功能可記錄多組測試配置與結(jié)果，便于數(shù)據(jù)追溯與對比分析。針對復雜測試需求，儀器提供多種接口選項，支持與計算機或自動化測試系統(tǒng)連接，實現(xiàn)遠程控制與數(shù)據(jù)交互。其緊湊的機身設計與模塊化結(jié)構(gòu)，既適合實驗室固定安裝，也可集成于生產(chǎn)線測試工位。
Agilent E4980A通過優(yōu)化信號處理算法與硬件設計，在保持高測量精度的同時，有效抑制環(huán)境噪聲干擾，確保測試結(jié)果的穩(wěn)定性。該設備廣泛應用于半導體器件評估、無源元件篩選、材料特性研究等領域，為電子行業(yè)提供高效的測試解決方案。
