GO-SPEX100空間光譜分布測(cè)量?jī)x廠家
上海雙旭GO-SPEX100空間光譜分布測(cè)量?jī)x廠家介紹
產(chǎn)品參數(shù)
光譜范圍:380nm-780nm(可定制擴(kuò)展至200nm-1100nm)
波長(zhǎng)精度:±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性:±0.1nm
光譜帶寬:≤2.0nm
空間分辨率:最高可達(dá)0.1mm
測(cè)量視場(chǎng)角:支持多角度配置,典型值2°/10°
探測(cè)器類(lèi)型:科學(xué)級(jí)面陣CCD或CMOS傳感器
動(dòng)態(tài)范圍:>70dB
測(cè)量速度:單點(diǎn)光譜測(cè)量時(shí)間<10ms,全視場(chǎng)掃描時(shí)間依配置而定
軟件功能:支持光譜分布圖、色度坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、均勻性分析等
接口:USB 3.0/以太網(wǎng),兼容主流工業(yè)通信協(xié)議
工作環(huán)境:溫度0-40℃,濕度<80%RH(無(wú)凝結(jié))
供電要求:AC 100-240V,50/60Hz,功率<100W
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求:設(shè)備使用前需進(jìn)行暗噪聲校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)光源校準(zhǔn),建議每連續(xù)工作8小時(shí)或環(huán)境溫度變化>5℃時(shí)重新校準(zhǔn)。
環(huán)境控制:避免在強(qiáng)電磁干擾、劇烈振動(dòng)、灰塵過(guò)多或腐蝕性氣體環(huán)境中使用。測(cè)量時(shí)需保持環(huán)境光穩(wěn)定,建議在暗室或遮光條件下操作。
光學(xué)部件保護(hù):嚴(yán)禁用手觸摸鏡頭、光纖接口等光學(xué)表面。清潔時(shí)需使用專(zhuān)用鏡頭紙和清潔劑,避免劃傷。
樣品放置:確保被測(cè)樣品表面平整且與測(cè)量探頭保持規(guī)定的距離和角度,避免雜散光干擾。
散熱管理:設(shè)備工作時(shí)確保通風(fēng)口無(wú)遮擋,連續(xù)高負(fù)荷測(cè)量時(shí)需監(jiān)控主機(jī)溫度。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):定期備份原始光譜數(shù)據(jù),防止因軟件異;虼鎯(chǔ)介質(zhì)故障導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。
維護(hù)周期:建議每6個(gè)月由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)檢查,每年進(jìn)行整體性能標(biāo)定。
安全警告:禁止擅自拆卸儀器外殼或修改內(nèi)部電路,維修必須由廠家授權(quán)技術(shù)人員執(zhí)行。 |