GO-SPEX100空間光譜分布測(cè)量?jī)x廠家
上海雙旭GO-SPEX100空間光譜分布測(cè)量?jī)x廠家介紹
產(chǎn)品參數(shù)
光譜范圍：380nm-780nm（可定制擴(kuò)展至200nm-1100nm）
波長(zhǎng)精度：±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性：±0.1nm
光譜帶寬：≤2.0nm
空間分辨率：最高可達(dá)0.1mm
測(cè)量視場(chǎng)角：支持多角度配置，典型值2°/10°
探測(cè)器類(lèi)型：科學(xué)級(jí)面陣CCD或CMOS傳感器
動(dòng)態(tài)范圍：＞70dB
測(cè)量速度：單點(diǎn)光譜測(cè)量時(shí)間＜10ms，全視場(chǎng)掃描時(shí)間依配置而定
軟件功能：支持光譜分布圖、色度坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、均勻性分析等
接口：USB 3.0/以太網(wǎng)，兼容主流工業(yè)通信協(xié)議
工作環(huán)境：溫度0-40℃，濕度＜80%RH（無(wú)凝結(jié)）
供電要求：AC 100-240V，50/60Hz，功率＜100W
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求：設(shè)備使用前需進(jìn)行暗噪聲校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)光源校準(zhǔn)，建議每連續(xù)工作8小時(shí)或環(huán)境溫度變化＞5℃時(shí)重新校準(zhǔn)。
環(huán)境控制：避免在強(qiáng)電磁干擾、劇烈振動(dòng)、灰塵過(guò)多或腐蝕性氣體環(huán)境中使用。測(cè)量時(shí)需保持環(huán)境光穩(wěn)定，建議在暗室或遮光條件下操作。
光學(xué)部件保護(hù)：嚴(yán)禁用手觸摸鏡頭、光纖接口等光學(xué)表面。清潔時(shí)需使用專(zhuān)用鏡頭紙和清潔劑，避免劃傷。
樣品放置：確保被測(cè)樣品表面平整且與測(cè)量探頭保持規(guī)定的距離和角度，避免雜散光干擾。
散熱管理：設(shè)備工作時(shí)確保通風(fēng)口無(wú)遮擋，連續(xù)高負(fù)荷測(cè)量時(shí)需監(jiān)控主機(jī)溫度。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：定期備份原始光譜數(shù)據(jù)，防止因軟件異�；虼鎯�(chǔ)介質(zhì)故障導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。
維護(hù)周期：建議每6個(gè)月由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)檢查，每年進(jìn)行整體性能標(biāo)定。
安全警告：禁止擅自拆卸儀器外殼或修改內(nèi)部電路，維修必須由廠家授權(quán)技術(shù)人員執(zhí)行。 |
