上海雙旭CM10FN涂鍍層測厚儀產(chǎn)品參數(shù)
測量原理： 磁性法（Fe基）/ 渦流法（NFe基），自動識別基材。
測量范圍： 0~1250μm（具體分段視探頭配置而定）。
分辨率： 0.1μm / 1μm（自動轉(zhuǎn)換）。
測量精度： ±（1~3%讀數(shù)+零點漂移），具體數(shù)值依量程和校準(zhǔn)狀態(tài)而定。
最小曲率半徑： 凸面：1.5mm，凹面：1.5mm（取決于探頭尺寸）。
最小測量面積： 直徑約6mm。
最小基體厚度： Fe基：0.2mm，NFe基：0.05mm。
校準(zhǔn)方式： 零點校準(zhǔn)、多點校準(zhǔn)、單點校準(zhǔn)。
數(shù)據(jù)存儲： 通常具備一定數(shù)量的數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計功能。
電源： 2節(jié)AA（5號）電池。
顯示： 背光LCD數(shù)字顯示。
工作溫度： 0℃ ~ 40℃。
使用注意事項
校準(zhǔn)： 使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)、相同表面粗糙度的無涂層基體上進行零點校準(zhǔn)，并使用與預(yù)期涂層厚度相近的標(biāo)準(zhǔn)片進行校準(zhǔn)驗證。
基體影響： 基體金屬的化學(xué)成分、熱處理狀態(tài)、厚度及幾何形狀（曲率、邊緣效應(yīng)）會影響測量精度，需進行針對性補償。
表面狀況： 待測表面必須清潔、干燥、無油污、無灰塵及氧化皮。粗糙表面或存在雜質(zhì)會導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定或誤差增大。
測量壓力與方向： 測量時探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地緊貼被測表面，保持恒定壓力，避免傾斜、晃動或在測量點滑動。
溫度穩(wěn)定性： 儀器、標(biāo)準(zhǔn)片和被測工件應(yīng)在相同溫度環(huán)境下穩(wěn)定一段時間，避免因溫差導(dǎo)致熱脹冷縮影響。
磁場干擾： 磁性法測量時，應(yīng)遠離強磁場環(huán)境或強磁性物質(zhì)，以免干擾探頭。
探頭保護： 避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，定期清潔探頭端面，確保測量面平整。
電池電量： 低電量時測量精度無法保證，應(yīng)及時更換電池。
標(biāo)準(zhǔn)片使用： 標(biāo)準(zhǔn)片為精密基準(zhǔn)，嚴(yán)禁彎曲、劃傷或腐蝕，應(yīng)定期送至計量部門檢定。
