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| 產(chǎn)品詳細(xì) |
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| 產(chǎn)品名稱: |
參數(shù)UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù) |
| 產(chǎn)品型號: |
看標(biāo)題 |
| 產(chǎn)品報(bào)價(jià): |
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產(chǎn)品詳細(xì):
參數(shù)UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù)
上海雙旭UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù)介紹
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理:磁感應(yīng)/渦流
- 測量模式:穿透涂層模式(可測量帶漆、鍍層等非導(dǎo)電覆蓋層下的基體金屬厚度)
- 測量范圍:通常為0~10mm(具體視探頭和基材而定)
- 顯示分辨率:0.1μm / 0.01mm
- 測量精度:±(1~3%H+1μm)(H為測量值,具體精度取決于工況)
- 探頭類型:一體式或分體式雙功能探頭
- 基材類型:鐵基(磁性法)/ 非鐵基(渦流法)
- 校準(zhǔn)方式:零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)、已知厚度片校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲:通常具備數(shù)據(jù)存儲與統(tǒng)計(jì)功能
- 電源:AA電池或可充電鋰電池
- 顯示:LCD數(shù)字顯示,帶背光
- 工作溫度:-10℃ ~ +50℃
使用注意事項(xiàng)
- 基材與模式選擇:測量前必須正確識別基材(鐵或非鐵),并選擇對應(yīng)的測量模式。
- 校準(zhǔn):使用前必須在無涂層的同種基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),并在有涂層的已知厚度樣板上進(jìn)行校準(zhǔn)驗(yàn)證,以確保穿透涂層測量的準(zhǔn)確性。
- 表面處理:測量點(diǎn)表面應(yīng)盡量清潔、平整,無浮銹、灰塵及強(qiáng)烈褶皺,過厚的油污或附著物會影響測量結(jié)果。
- 測量操作:測量時(shí)探頭需與工件表面保持垂直、穩(wěn)定接觸,避免傾斜、晃動(dòng)。施加的壓力應(yīng)恒定適中。
- 環(huán)境影響:避免在強(qiáng)磁場、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中使用。極端高低溫可能影響儀器精度與電池性能。
- 探頭保護(hù):避免探頭受到劇烈撞擊或磨損,定期檢查探頭磨損情況,嚴(yán)重磨損需更換。
- 涂層限制:穿透涂層功能對涂層的厚度和材質(zhì)有適用范圍,過厚或含磁性/導(dǎo)電顆粒的涂層可能導(dǎo)致測量誤差或失敗。
- 數(shù)據(jù)解讀:對于粗糙曲面、小工件、邊緣測量或特殊合金,讀數(shù)可能不穩(wěn)定,建議多次測量取平均值。
- 電池管理:長期不使用應(yīng)取出電池,防止電池漏液損壞儀器。
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