UM-1D穿透涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流
測(cè)量范圍：0~1000μm（鐵基）/ 0~1000μm（非鐵基）
顯示分辨率：0.1μm / 1μm
測(cè)量精度：±(1~3%H+1)μm
最小曲率半徑：凸面：1.5mm / 凹面：10mm
最小測(cè)量面積：直徑6mm
最小基體厚度：鐵基：0.2mm / 非鐵基：0.05mm
穿透涂層能力：最大至100μm（非導(dǎo)電涂層）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能（具體容量需參考最新規(guī)格）
電源：2節(jié)AAA電池
工作溫度：0℃~40℃
尺寸與重量：緊湊型設(shè)計(jì)，具體數(shù)值需參考產(chǎn)品手冊(cè)
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在無(wú)涂層的基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在標(biāo)準(zhǔn)片上執(zhí)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)以確保精度。
表面處理：測(cè)量前需確保被測(cè)表面清潔、干燥、無(wú)灰塵、油污及銹跡。
基體特性：基體材料、厚度、曲率及表面粗糙度必須滿足儀器規(guī)定的最小要求，否則將影響測(cè)量準(zhǔn)確性。
探頭放置：測(cè)量時(shí)探頭需與被測(cè)面垂直、穩(wěn)定接觸，避免傾斜、晃動(dòng)或壓力不均。
涂層限制：穿透涂層測(cè)量時(shí)，上層非導(dǎo)電涂層厚度不得超過(guò)儀器標(biāo)稱的最大穿透能力（如100μm）。
干擾物：測(cè)量區(qū)域應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈振動(dòng)的環(huán)境，避免內(nèi)部或附近存在金屬構(gòu)件干擾。
溫度影響：避免在過(guò)高或過(guò)低的溫度環(huán)境中使用，極端溫度可能導(dǎo)致測(cè)量誤差或設(shè)備損壞。
維護(hù)保養(yǎng)：定期清潔探頭，避免磨損、撞擊；長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。
數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于多層涂層或特殊涂層體系，測(cè)量結(jié)果可能需結(jié)合工藝知識(shí)進(jìn)行綜合判斷。
