UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù)
上海雙旭UM-1D穿透涂層測厚儀
產(chǎn)品參數(shù)
測量原理： 磁性感應(yīng) / 渦流感應(yīng) (雙功能自動識別)
測量范圍： 0 ~ 1250 μm (0 ~ 50 mils)
基體材質(zhì)： 磁性金屬 (如鋼、鐵) / 非磁性金屬 (如銅、鋁、鋅)
最小曲率： 凸面5mm，凹面25mm
最小面積： 直徑20mm
測量精度： ±(1~3%H+1)μm (H為被測涂層厚度)
分辨率： 1μm / 0.1mil
校準(zhǔn)方式： 零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲： 約500組測量數(shù)據(jù)
電源： 2節(jié)AAA (7號) 電池
自動關(guān)機(jī)： 約3分鐘無操作后自動關(guān)機(jī)
工作溫度： 0℃ ~ 40℃
尺寸與重量： 約102mm × 66mm × 24mm，約100g (不含電池)
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求： 使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)、相同表面狀態(tài)的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)。若基體厚度小于臨界厚度，需使用與待測工件涂層厚度相近的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。
基體影響： 基體金屬的電導(dǎo)率、磁性、厚度及形狀（曲率、面積）會對測量結(jié)果產(chǎn)生顯著影響。測量小曲面、小面積或薄基體時(shí)需特別注意。
表面清潔： 測量前必須確保被測表面清潔，無附著物（如灰塵、油污、銹蝕、氧化皮）。探頭應(yīng)垂直于被測表面并保持穩(wěn)定接觸。
環(huán)境干擾： 避免在強(qiáng)磁場、強(qiáng)電場或劇烈溫度波動的環(huán)境中使用。周圍有其他大型金屬物體可能干擾測量。
探頭保護(hù)： 探頭為精密部件，避免撞擊、磨損或接觸腐蝕性物質(zhì)。測量粗糙表面時(shí)建議使用耐磨探頭或及時(shí)更換探頭保護(hù)套。
數(shù)據(jù)解讀： 對于多層涂層或含有金屬顏料的涂層，測量值可能不準(zhǔn)確或僅代表總厚度。對異常數(shù)據(jù)應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)復(fù)測。
電池管理： 長期不使用應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。低電量提示時(shí)應(yīng)及時(shí)更換電池，以保證測量精度。 |
