UM-2D 穿透涂層測厚儀供應商
上海雙旭UM-2D穿透涂層測厚儀供應商介紹
產(chǎn)品概述
UM-2D型穿透涂層測厚儀由上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)，是一款專用于測量帶漆、鍍層等覆蓋層下金屬基材厚度的精密儀器。其采用磁性測厚原理，無需去除表面涂層即可直接測量鋼鐵等磁性基體的厚度，廣泛應用于制造業(yè)、質(zhì)檢、維修等領域。
主要產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應（磁阻效應）
- 測量范圍：通常為0~2000μm（具體以型號規(guī)格為準）
- 基體材料：鋼鐵等磁性金屬
- 涂層穿透能力：可穿透非磁性涂層（如油漆、粉末涂層、塑料、鋅、鉻等）進行測量
- 測量精度：高精度，典型值可達±（1~3%H+1μm）（H為厚度值）
- 顯示方式：數(shù)字LCD液晶顯示
- 校準方式：零點校準和多點校準
- 電源：通常使用紐扣電池或AAA電池
- 操作環(huán)境：溫度、濕度符合工業(yè)標準
- 探頭類型：一體式或分體式磁性探頭
使用注意事項
- 基體限制：僅適用于磁性金屬基體（如鋼、鐵）。測量非磁性金屬（如鋁、銅、不銹鋼奧氏體）無效。
- 涂層限制：表面涂層必須為非磁性。如果涂層含有鐵磁性顆粒，測量結(jié)果將嚴重失真。
- 表面處理：測量前需確保表面清潔，無附著雜質(zhì)、強磁性物質(zhì)或厚銹層，以免影響探頭接觸和測量精度。
- 校準要求：使用前必須在無涂層的同質(zhì)基材上進行零點校準。對于不同基材或重要測量，建議使用隨附標準片進行多點校準。
- 測量技巧：測量時探頭需垂直、平穩(wěn)緊貼被測表面，避免傾斜、晃動或壓力不均。對于曲面，盡量使用探頭中心點接觸。
- 干擾規(guī)避：遠離強磁場環(huán)境（如大型電機、變壓器）和強電磁干擾源，以免讀數(shù)不穩(wěn)定。
- 基體厚度影響：被測基體本身應有足夠的厚度（通常建議大于1mm），過薄的基體可能導致測量誤差。
- 邊緣效應：靠近邊緣、孔洞或劇烈形狀變化的區(qū)域測量不準確，應在平整區(qū)域進行測量。
- 設備維護：保持探頭清潔，避免磨損、撞擊。長期不用時應取出電池。
- 結(jié)果驗證：對于關鍵測量，建議通過破壞性方法（如千分尺）在局部進行驗證對比。
供應商信息
上海雙旭電子有限公司是專業(yè)的測厚儀制造商。供應商（分銷商/代理商）通常提供該儀器的銷售、技術(shù)咨詢、校準及售后服務。采購時請確認供應商的授權(quán)資質(zhì)、售后保修政策（通常一年），并索取正式發(fā)票、中文說明書及校準證書。 |
