LED芯片發(fā)光性能測試系統(tǒng)【上海雙旭】
上海雙旭LED芯片發(fā)光性能測試系統(tǒng)【上海雙旭】
產(chǎn)品參數(shù)
型號：根據(jù)具體配置定制（如SX-LED1000系列）
測試對象：LED芯片、Mini LED、Micro LED等半導(dǎo)體發(fā)光器件
光譜測量范圍：380nm ~ 780nm（可擴展至近紫外與近紅外）
光度參數(shù)：光通量、發(fā)光強度、色坐標（x, y）、色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）
電學(xué)參數(shù)：電壓、電流、功率、正向電壓（Vf）、反向電流（Ir）
測試精度：光度精度±3%，色度精度±0.002（標準條件下）
積分球尺寸：可選直徑30cm/50cm/100cm，涂層材料為高反射率硫酸鋇
控制系統(tǒng)：工業(yè)PC與專用測試軟件，支持數(shù)據(jù)導(dǎo)出與報表生成
供電要求：AC 220V ±10%，50Hz，接地良好
使用注意事項
1. 系統(tǒng)需在暗室或低環(huán)境光條件下使用，避免雜散光干擾測試結(jié)果。
2. 定期校準積分球與光譜儀，建議每半年進行一次標準光源校準。
3. 測試前確保LED芯片與探針臺接觸良好，避免接觸電阻導(dǎo)致電學(xué)參數(shù)誤差。
4. 避免積分球內(nèi)壁污染，清潔時使用專用軟刷，嚴禁使用有機溶劑擦拭涂層。
5. 系統(tǒng)運行時保持供電穩(wěn)定，異常斷電可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失或硬件損壞。
6. 軟件操作需按標準流程進行，非專業(yè)人員不得修改測試參數(shù)與校準文件。
7. 高功率LED測試時需控制測試時間，避免積分球內(nèi)部溫升影響測量精度。 |
