【雙旭電子】TH702高端顯微維氏努氏硬度計(jì)銷(xiāo)售
上海雙旭電子TH702高端顯微維氏/努氏硬度計(jì)
產(chǎn)品概述
TH702是一款高精度、全自動(dòng)的顯微維氏和努氏硬度測(cè)試儀器，采用先進(jìn)的圖像處理技術(shù)和精密機(jī)械結(jié)構(gòu)，適用于金屬、陶瓷、薄層、鍍層及微小零件的硬度精確測(cè)量。
核心產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)試方法：顯微維氏硬度（HV）、努氏硬度（HK）
- 試驗(yàn)力：10gf、25gf、50gf、100gf、200gf、300gf、500gf、1kgf（可選更高力值）
- 物鏡與壓頭切換：全自動(dòng)切換，標(biāo)配10×、40×物鏡
- 測(cè)量系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭，自動(dòng)對(duì)角線測(cè)量
- 測(cè)量范圍：HV0.01 ~ HV3（根據(jù)試驗(yàn)力）
- 最小測(cè)量單位：0.01μm
- 放大倍數(shù)：光學(xué)系統(tǒng)100×、400×；數(shù)字放大可達(dá)數(shù)千倍
- 測(cè)試臺(tái)：XYZ手動(dòng)或自動(dòng)平臺(tái)，行程不小于100×100mm
- 數(shù)據(jù)輸出：連接電腦，專(zhuān)用軟件控制、保存、打印報(bào)告
- 照明系統(tǒng)：LED冷光源，亮度可調(diào)
- 電源：AC 220V，50Hz
使用注意事項(xiàng)
- 環(huán)境要求：儀器應(yīng)放置在穩(wěn)固、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，避免陽(yáng)光直射，遠(yuǎn)離腐蝕性氣體和強(qiáng)電磁干擾源。環(huán)境溫度建議20℃±5℃，濕度低于70%。
- 校準(zhǔn)與校驗(yàn)：首次使用或定期（建議每年）需使用標(biāo)準(zhǔn)硬度塊進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測(cè)量精度。
- 樣品制備：被測(cè)樣品表面應(yīng)平整、清潔、無(wú)油污。對(duì)于微小或薄層試樣，需確保其穩(wěn)固夾持，且厚度滿足測(cè)試力下壓痕深度的10倍以上原則。
- 操作流程：嚴(yán)格按照開(kāi)機(jī)→選擇試驗(yàn)力→聚焦→壓痕→測(cè)量→記錄的流程操作。避免在加載過(guò)程中振動(dòng)儀器。
- 壓頭與物鏡保護(hù)：金剛石壓頭極其精密且昂貴，使用后應(yīng)移至安全位置。清潔光學(xué)鏡頭時(shí)使用專(zhuān)用工具，避免劃傷。
- 軟件與數(shù)據(jù)：定期備份測(cè)量數(shù)據(jù)。非專(zhuān)業(yè)人員請(qǐng)勿修改軟件系統(tǒng)參數(shù)。
- 維護(hù)：保持儀器清潔，滑動(dòng)部件定期添加微量潤(rùn)滑油。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)切斷電源，并用防塵罩覆蓋。
產(chǎn)品特點(diǎn)
全自動(dòng)測(cè)試流程，減少人為誤差；高清晰度圖像與精確算法確保測(cè)量重復(fù)性；符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)GB/T、ISO、ASTM；廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢、科研、材料分析等領(lǐng)域。 |
