CSK-ICJ 超聲波探傷試塊
上海雙旭CSK-ICJ 超聲波探傷試塊
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號：CSK-ICJ
- 材質(zhì)：鋁合金（6061-T6）或鋼（按訂貨要求）
- 外形尺寸：約300mm×150mm×25mm（長×寬×厚）
- 參考反射體：橫孔、平底孔、V型槽、圓弧面等組合結(jié)構(gòu)
- 橫孔直徑：Φ1mm、Φ2mm、Φ3mm（深度可調(diào)范圍0~50mm）
- 平底孔直徑：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm（深度可調(diào)范圍0~40mm）
- V型槽角度：60°、90°（槽深0.2~2mm可調(diào)）
- 圓弧面半徑：R10mm、R20mm、R30mm（用于曲面檢測校準(zhǔn)）
- 表面粗糙度：Ra≤1.6μm（保證聲耦合一致性）
- 適用頻率范圍：0.5MHz~15MHz（覆蓋常規(guī)及高頻探傷儀）
- 重量：約1.8kg
產(chǎn)品介紹
CSK-ICJ為上海雙旭電子有限公司研制的多功能標(biāo)準(zhǔn)超聲波探傷試塊，專用于超聲探傷系統(tǒng)的靈敏度校準(zhǔn)、缺陷定量評估及探頭性能測試。試塊集成多種典型人工反射體，可模擬焊縫根部未焊透、氣孔、夾渣、裂紋等缺陷聲學(xué)特征，適配接觸法、水浸法等多種檢測方式。結(jié)構(gòu)設(shè)計兼顧平面與曲面檢測需求，適用于碳鋼、不銹鋼、鋁合金等不同材質(zhì)工件的探傷工藝驗證與設(shè)備日常核查。
試塊采用高精度機械加工與熱處理穩(wěn)定化處理，確保反射體尺寸一致性與長期穩(wěn)定性，表面經(jīng)陽極氧化或鍍鉻防護(hù)，抗腐蝕能力強，使用壽命長。廣泛應(yīng)用于特種設(shè)備檢驗、鋼結(jié)構(gòu)制造、壓力容器、船舶建造、軌道交通等領(lǐng)域的無損檢測質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。
使用注意事項
- 使用前檢查試塊表面無劃痕、凹坑及銹蝕，反射體邊緣完整無變形，必要時用放大鏡或光學(xué)投影儀復(fù)核尺寸。
- 耦合劑須均勻涂抹，避免氣泡影響回波幅度；接觸法檢測時探頭與試塊應(yīng)保持恒定壓力，防止耦合狀態(tài)變化導(dǎo)致讀數(shù)漂移。
- 不同頻率或晶片尺寸的探頭需對應(yīng)選取合適反射體進(jìn)行校準(zhǔn)，避免頻率失配引起回波幅度誤差。
- 橫孔、平底孔校準(zhǔn)缺陷當(dāng)量時，應(yīng)保證聲束軸線垂直入射反射體端面，傾斜入射會顯著降低回波并引入定位誤差。
- V型槽用于裂紋模擬時，掃查方向應(yīng)平行于槽延伸方向，否則回波幅度下降明顯，不宜作為裂紋檢出靈敏度依據(jù)。
- 試塊使用后及時清潔殘留耦合劑，鋁合金試塊避免接觸強酸強堿，鋼試塊防銹油封存以防氧化。
- 不得對試塊進(jìn)行焊接、打磨、敲擊等破壞性操作，長期存放應(yīng)置于干燥恒溫環(huán)境，避免劇烈溫差導(dǎo)致材料內(nèi)部應(yīng)力變化。
- 定期進(jìn)行計量溯源，建議每12個月送有資質(zhì)機構(gòu)檢定一次，確保試塊反射體尺寸和聲學(xué)特性符合GB/T 11259、JB/T 10061等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
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